Stigos

STIGOS : analyse du travail des matières osseuses

Identification, caractérisation et représentation des stigmates techniques

Stage universitaire des Ecoles Doctorales

Thématique: Les stigmates techniques : pierre angulaire de l’analyse technologique. L’interaction conjointe des trois paramètres définissant une technique - mode d’action, outil et geste – se matérialise sous la forme d’un stigmate caractéristique sur la matière travaillée. L'identification de ces stigmates sur les vestiges de l’industrie en matières osseuses conduit donc à la reconnaissance des techniques utilisées, pierre angulaire de toute analyse technologique.

Programme : destiné en premier lieu à former les stagiaires à la reconnaissance des stigmates techniques et à la retranscription de leurs observations, le stage comprendra plusieurs volets visant à :

• Présenter les différentes techniques et les stigmates qu’elles génèrent
• Identifier les stigmates « génériques » (pan de fracture, négatif d’enlèvement, strie, sillon) et leurs variations selon la matière travaillée et les outils utilisés (silex, métal…)
• Observer ces stigmates à différentes échelles (œil nu, loupe binoculaire…)
• Décrire et analyser les stigmates reconnus (établir une fiche descriptive : quels critères retenir, dans quel but, selon quelle orientation de la recherche)
• Représenter les stigmates : dessin (naturaliste et codifié) ; infographie
• Exploiter les données recueillies sur les stigmates (comment intégrer l’identification des stigmates et des techniques dont ils témoignent dans une démarche globale)

Lieu : France
Dates : une session par an (3 jours en automne)
Nombre de participants : 14 (maximum)
Ouvert à l’international aux doctorants et selon les cas, aux Master 1 et 2
Cours en français, explications et TP en anglais, espagnol, italien, danois selon demande

Equipe pédagogique : resp. A. Averbouh (CNRS TRACES) et M. Christensen (MC UP1 ArScAn) + V. Feruglio (Ch ArScAn), N. Goutas (CNRS ArScAn), B. Marquebielle (Doct. TRACES), L. Manca (Doct. LAMPEA), J.-M.Pétillon (CNRS TRACES), J.-M.Tejero (Univ. Barcelona et ArScAN)

Renseignements : Aline Averbouh averbouh@univ-tlse2.fr / Marianne Christensen Marianne.Christensen@univ-paris1.fr